有机EL元件发光效率测试装置能简单并迅速地测试有机EL元件的各种发光特性。该设备主要由暗箱、辉度计、分光器、EL元件驱动电源及分析装置构成，可以对有机EL元件的I-V-L特性、外部量子效率等各种发光效率、发光光谱、各项色度值、辉度的经时变化等进行测量。只需要装好EL元件，就简单而快速地完成测量。设备特点：1．定各种发光特性与经时变化2. 测定发光光谱和各种色度值3. 测定元件的外部量子效率4. 可以通过软件控制电流和电压的阶段性变化5. 通过设定元件回转功能可以测定光放射角度的分布状况6. 通过设定元件的温度控制功能可以在高温下完成相关测量7. 使用脉冲电源时可以脉冲变化测定项目：1.辉度（cd/ｍ ） 电压（V） 电流密度（mA/cｍ ）：测量电压电流的变化对辉度的影响2.外部量子效率（photons/electrons）：用辉度和光谱来算出外部量子效率3.发光效率（cd/A）,能量转换效率（lm/W）：计算出相对于电流密度的发光效率和能力转换效率4.发光光谱：测定驱动电压、电流下的光谱5.各种色度值：XY坐标，CRI，色温，RGB值6.辉度的经时变化：测定一定的驱动电压或电流下的辉度的经时变化7.放射角度分布：通过旋转元件测试光放射角度的分布状况 技术参数测试暗箱可测试的芯片尺寸20mm?100mm芯片固定平台XY手动调整范围： 30mmZ轴手动调整范围： 3.5mm回转手动调整范围： 90度辉度计测试视野 1.1mm? 1.5mm或者 0.4mm? 0.5mm测试角度0.3度辉度测试范围FAST:0.01cd/m ?999900cd/m SLOW:0.01cd/m ?499900cd/m EL1003系统的测量界限辉度是1.0cd/m 测试精确度测量值的 2% 1dgt(10cd/m 以上)分光器检测器CCD列分光波长域380nm?780nm波长分辨率2nm光导入系统调焦镜头+光纤I/FUSB电压、电流发生器输出电流/设定分辨率0.000mA?200.0mA/1 m输出电压/设定分辨率0.00V?38.00V/10mV电流测量范围/分辨率0.0mA?200.0mA/100 A电压测量范围/分辨率0.00V?38.00V/10mVI/FRS-232C数据解析设备系统WindowsXP、PC、TFT液晶显示测量控制设定参数显示测量结果的图示数据保存测量时间、测量条件、测量值、计算值的TEXT保存