发光芯片检测设备采用专业设计的同轴光学系统，测量的波长范围涵盖350mm?1000mm，可以对可视LED、UV-LED、近红外LED等进行测量和评估。 产品特点：1. 可同时对芯片的发光形状、光谱和强度完成即时测量；2. 轻巧设计，可放在桌上直接操作；3．较广的测量波长范围：350mm?1000mm4．高测量分辨率：形状分辨率1.34 m、光谱分辨率1nm、强度分辨率10nW5．可选择安装I-L-V测量功能6. 配备有标准的手动XYZ轴平移台 用途： 1. 生产线上的产品检查 2. 质量管理部门的故障分析 3. 技术开发部门的实验芯片检测 4. 研究及开发用设备 5. 测定LED性能的基础设备产品参数 测量测量项目发光形状、光谱、光强度受光条件NA：0.1、焦点距离：15.7mm测量波长范围350nm?1,000nm测量光强度范围约10nW?100mW:根据光束和光谱而变化可测量的最大芯片尺寸及分辨率约1.3mm 1.1mm,分辨率1.0 m光谱分辨率约1nmXYZ平台系列构成光学系搭载XY平台、样品搭载XYZ平台、样品托架、底座光学系搭载XYZ平台移动量：XY 50mm样品搭载XYZ平台移动量：XY 6.5mm、Z 3.0mm，分辨率：10 m样品托架标准：4个插口底座300mm 450mm测量软件发光形状光束宽幅、坐标、光束面积、主轴倾斜度，X图，XY图，二维图，三维图等。发光光谱光束波长、重心波长、光谱宽幅、光谱图等发光强度瞬间强度值，最大值，最小值，平均值，强度的时间变化等动作环境配有USB2.0插口的WindowsXPPC,软件用CDROM安装。标准构成同轴光学系本机，5倍变焦，滤光器，照明光源（含电源）发光形状测量用摄像头本机，USB接线，测试软件CD光谱测量用分光器本机，光纤，USB接线，测试软件CD强度测量仪本机，Si强度测量头，USB接线，测试软件CD软件分析测量数据的软件CD平台系列光学系搭载XY平台，样品搭载XYZ平台，样品托架、底座I-L-V测量（可选）测量项目测量I-L、V-L、V-I电压电流测量范围0.01V?38V/分辨率10mV 0.001mA?200mA/分辨率1 A构成测量仪，USB接线，测量软件