軟銘板功能測試機KD-CTMTMEMBRANEKEYSWITCHTESTERKD-CTMT專為薄膜按鍵銘板MembraneKeySwitch組合完成後的功能測試所設計，利用電磁鐵(或小汽缸及汽壓式探針)產生下壓的力量施加於MembraneKeySwitch按鍵點表面上，使特定的位置或按鍵點上下層形成短路導通，藉以讀取上下層按鍵點接觸電阻及線路電阻值，經由與測試標準值之比對，進而判斷待測板及按鍵點好壞。KD-CTMT只需使用者輸入少數參數，測試標準值則由電腦自動讀取，視窗劃面，操作簡單易學、測試速度快，最適合量產測試。本機另設有防呆裝置電眼，可防止因操作人員的疏失造成不良品混入良品內之功能。KD-CTMT規格表規格及配備： 測試點數：128pointsstandard，256pointsmax測試電壓：DC15V開路電阻：1M 20Mohm短路電阻：50 20Kohm接觸電阻值：10-1Mohm測試電流：20Mamax.輸入方式：自動讀取autolearn顯示：14 monomonitor印表機界面：Centronic自我診斷：I/OAccessSwitchCardTestPrintTestAllOpenTestAllShortTest測試界面：64pinconnector電源：110/220Vac50/60Hz單相主機桌體：重量：160Kg 尺寸：1320(L)x920(W)x1670(H)mm