产品介绍XLE-3型大平台检测显微镜是专为IT行业大面积集成电路，晶体的质量检测而设计开发制造的。正置式，三目镜筒，比传统的显微镜更适合于观察。上部安装彩色摄像机连续彩色监视器可直接观察。可连接计算机打印报告、照片或连接数码相机，照相机直接拍照，还可以直接进行图像记录，并建立技术检测档案，存储，查询，可省去复杂烦琐的摄影，洗印等暗室工作，大大的提高了工作效率。1）放大倍数：40倍至500倍；2）超大型载物台，可作大范围的纵横方向快、慢速移动，扩大检测领域的使用范围，适用于电子、冶金、机械、化工、科研、院校等部门，以及金相技术检验，失效分析等。主要技术参数1.机械筒长160mm2.物镜放大倍数 数值孔径 工作距离 介质 使用范围 4X 0.10 17.912 空气 明场 10X 0.25 6.544 空气 明场 PC20X 0.40 1.05 空气 明场 PC40X 0.65 0.736 空气 明场3.目镜放大倍数 焦距 视场直径 备注 10X 25 18 12.5X 25 14 选配4.物镜:放大倍数,400倍至500倍5.载物台面积 400mm×300mm（纵向移动范围254mm,横向移动范围254mm）6.调焦机构:同轴粗微调机构,调焦范围36mm.格值0.002mm7.光源：内藏式连续调光电源，钨卤素灯12V/50W。8.物镜转换器 五孔式(四孔式)9.目镜筒 三目镜 (双目镜)10.仪器功能,明场,偏光,摄影等11.仪器重量：17公斤12.仪器体积：长560mm,宽530mm,高400mm