产品概述SIM-B330i插回损测试仪是集合自身多年的光纤无源器件和光通信检测仪表的生产和测试经验，并充分借鉴了国内外仪表的优点和国内客户的需求，潜心研制开发出来的一款精密光检测仪表。它广泛应用于光纤光缆、光无源器件和光纤通信系统的插损和回损测试，是广大生产厂商、科研机构和运营商用于生产检测、研究开发和工程施工维护的基本和理想的测试仪器。 产品特性独特的损耗告警值设定，不同颜色显示，大大提升测试效率操作简单超强电路设计，对大动态范围和微弱信号精确检测分析处理功率计模块波长与光源模块的波长联动，明显减少操作步骤独特的光源接头可拆卸便捷清洁设计并提供全面的功率计接口配置 技术指标仪表型号SIM-B330i光回波损耗测试工作波长1310/1550nm测试范围0~75dB校准波长1310/1550nm测试精度0.25dB输出稳定性0.05dB/小时(@25℃)接口类型FC/APC光插入损耗测试校准波长850/1310/1550nm测试范围+3~-80dBm测试精度0.25dB显示分辨率对数：0.001dB；线性：0.001nw/ W/mW测试模式线形和非线性接口类型活动接口，FC/SC/ST/通用 2.5mm/通用 1.25mm等适配器总指标电源AC100-240V工作温度-5℃～+55℃外观尺寸260X265X140mm重量3kg