性能特点：1、CST-50型冲击试样缺口投影仪是我公司根据目前国内广大用户的　实际需求和GB/T229-94《金属夏比缺口冲击试验方法》中对冲击　试样缺口的要求而设计、开发的一种专用于检查夏比V型和U型冲　击试样缺口加工质量的专用光学仪器，该仪器是利用光学投影方　法将被测的冲击试样V型和U型缺口标准样板图对比，以确定被检　测的冲击试样缺口加工是否合格，其优点是操作简便，检查对比　直观，效率高。2、对于夏比V型缺口冲击试验，由于试样V型缺口要求严格（试样缺　口深2mm、呈45 角且试样缺口尖端要求R0.25 0.25），故在整个　试验过程中，试样的V型缺口加工是否合格成了关键问题，如果试　样缺口的加工质量不合格，那么其试验的结果是不可信的，特别是　R0.25mm缺口尖端的微小变化（其公差带只有0.25mm）都会引起试　验结果的陡跳，尤其是在试验的临界值时会引起产品报废或合格两　种截然相反的结果。为保证加工出的夏比V型缺口合格，对缺口的加　工质量检验是一个重要的质量控制手段。一、技术参数：1、投影屏直径：1802、工作台尺寸：方工作台：110 125　　　　　　　圆工作台：∮90　　　　　　　工作台玻璃直径：∮703、工作台行程：　纵向：10mm　　横向:10mm　　升降:12mm　　　　　　　　　工作台转动范围：0～360 4、仪器放大倍率：50 ；物镜放大倍率：2.5 投影物镜放大倍率　　　　　　　　20 ；光源(卤钨灯)；12V/100W5、电源：220V/50Hz；重量:约18kg6、外型尺寸：515 224 603mm(长 宽 高)