TR518FE 其主要特性在于测试 速度较传统 ICT 快一倍以上。 此外，更具有可程序化开短路学习模式设定，满足各种不同待测物之测试特性。对于高针点的产品或大批量之制程，无疑是一台抵两台的选择，无论在设备本身或治具投资上均可因此而大大降低成本。 计算机自动学习并自动产生，开 / 短路、 Pin Information 及 IC 保护二极管之测试程序。 可网络联机，并结合数据库管理及测试站监控程序。 Board View功能可实时显示不良组件、针点之位置，方便检修。大型主机设计，高密度SwitchingBoard，最高可达3584测试点。应用IC Clamping Diode技术，可辅助检测BGA开路空焊问题。