2.1探测系统 1、探测器 制造商：美国Amptek公司生产 类型：电制冷Si-PIN探测器(采用PIN结构的高性能电致冷半导体探测器)型号：XR-100CR制造商：美国Amptek公司生产 Be窗厚度：1mil(0.0254mm)最佳分辨率：149 5eV系统峰背比： 5000/1能量响应范围：1keV~40keV推荐计数率：5000cps（DP4PeakingTime=25.6us）2、信号处理系统DP4（与探测器高度集成） 放大器增益自动调整；脉冲成型时间自动调整；MCA通道数最高可达8K；每一通道总计数可达24位（16.7M） 2.2高压电源图 片生产商：美国Spellman公司生产型号：MNX50P50输入电压:DC+24V 10%输入电流：4.0A（最大）输出电压:0-50Kv@1mA最大功率：50W电压调整率：0.01%（从空载到满载）电流调整率：0.01%（从空载到满载）纹波系数：0.1%（P-P值） 2.3 X光管图 片制造商：辽宁丹东科维电 压:0~50kV最大电流:1.0mA最大功率:50W灯丝电压:2.0V@50kV/1mA灯丝电流:1.7A射线取出角：12 靶 材：MoBe窗厚度：0.5mm 2.4微动平台与高分辨率CCD 载物测试平台，配有微调装置，可方便的实现检测物的定位与检测区域的调整。120万像素的CCD摄像头，可有效的实时观察测试区域状况，并拍下物料照片，作为检测报告的组成部分。 2.5散热系统高效三维散热系统，大幅度提供仪器的可靠性、稳定性2.6防辐射安全系统三重射线防护系统（软件联锁、硬件联锁、整机迷宫式设计），开盖测试自动警示系统。2.7仪器操作软件功能 1、可以对RoHS指令中的五种有害元素（Pb，Cd，Hg，Br，Cr）卤数（Br，Cl）进行精准测试；2、分析方法：综合应用经验系数法、基本参数法；3、开放性工作曲线：用户可很方便的建立针对性的风险物料专用曲线，提高工作曲线与风险物料的对应性，从而全面提高检测精度，提高允收判定的准确性。4、分析报告：多种语言格式(简体中文繁体中文英文等)及文档格式报告，如Excel、PDF等，预设标准模板，用户还可自定义模板格式，所有文档可自由打印和保存；5、数据自动保存：所有样品测试后的数据均会自动保存，测试结果具有可追溯性；可以很方便的进行历史谱图与现测谱图的对比，从而发现来料的变化趋势，建立更高的风险防范能力。6、稳定性自检功能：可即时对仪器当前稳定性进行自动测试；7、软件安全联锁，对误操作等造成的辐射泄露实现即时的X射线切断处理。保证操作人员意外辐射安全。8、操作界面多语种:英语、简体中文、繁体中文等。2.8升级与选配1、用户另行购置多元素分析软件测试范围扩展到S U；2、用户另行购置镀层测厚软件，可进行镀层测试；3、用户另行购置六价铬测试仪可实现六价铬定量检测；2.9仪器技术参数1、仪器尺寸：640(W)x474(D)x412(H)mm 2、样品腔尺寸：小样品腔：300*300*100mm； 大样品腔：无限制，小于30公斤3、重量：约48Kg4、工作环境温度：温度15 30℃5、工作环境相对湿度： 85%（不结露）6、可分析元素范围：K-U7、最低检出限：Cd/Cr/Hg/Br 2ppm,Pb 5ppm Cl 50ppm8、测量时间：120-200s(系统自动调整)9、最佳分辨率：149 5eV10、输入电源：AC220V 10%，50Hz11、额定功率：800W