国内最佳性比的RoHS检测仪、卤素检测仪、贵金属检测仪、测厚仪*****硬件体系*******高分辨率探测器 美国原装电制冷Si-PIN探测器，集合了尖端的核电子多道脉冲幅度分析器。**精密稳定的高压电源 采用工业级专用X射线荧光分析的精密高压电源，为X射线光管提供长时间的稳定高压。**低功率X射线光管 采用W/Rh靶X射线管，静音高速风扇制冷，设计寿命5万小时。**高像素摄像头，精确定位 内置130万像素高清摄像头以及电动样品移动装置，方便对样品扫描区域的准确定位和观察。**全方位的X射线防护体系 采用电源开关锁、样品盖开合检测等安全装置全方位防止X射线的泄漏，确保操作人员的安全。*****软件简介*******先进的光谱分析方法 紧跟国际最前沿的X射线光谱分析方法，科学的对光谱进行元素定性、定量分析。**FP基本参数法、理论系数法多种含量校正方法 多种含量校正方法，解决复杂样品元素之间的基体影响。**无标样分析 真正意义上实现无任何标样的含量、镀层分析。对于含量分析，高含量元素相对误差范围可控制在1%以内；对于镀层分析，厚度相对误差范围可控制在10%以内。**镀层厚度分析 选用专用的功能模块实现对镀层厚度的分析，使用户无需添加额外硬件即可进行镀层厚度分析。*****产品优势***** 由于采用了先进复杂的计算、校正算法，最大程度上减少了定量分析需要的标样，这在同行中处于领先地位。 X射线荧光分析，需要针对不同的行业、不同应用使用大量标准样品。而标准样品很难获取且价格不菲，困扰了很多使用者。为了解决用户这些难题，研发人员花费数年时间，跟踪参考了国内外诸多有关X射线荧光分析研究论文、成果，编写出复杂的软件算法，减小了X射线荧光测试对标样的依赖。对于镀层测厚，我们提供了厚度标样、含量标样、无标样三种方案。 通过改进硬件，Pb、Cd等的检测灵敏度提高2倍。采用新型滤光片，有效的降低X射线荧光本底，提高检测灵敏度。 独特的光学准直器，增强X射线荧光强度。 独特光学准直器，光束最小直径达0.025mm，集中X射线光束，增强荧光强度，提高对微量元素的检测以及超薄镀层的分析。