产品品牌：华凯

产品型号：SC-2011

Sc-2011型半导体粉末电阻率(四探针)测试仪是根据四探针测试原理研究成功的多用途的综合测量装置，它可以测量棒状、块状,粉末，半导体材料的电阻率和半导体扩散层的薄层电阻进行测量，还可以对有机、无机半导体粉末材料(包括纳米级)的电阻率测量, 也可以测量固体半导体材料，特别适合于太阳能多晶硅、硅粉质量的测量、分选和质量控制. 电阻率值直接数字显示由具有高精度加压系统, 高度测量的测试台和仪器组成.
可以从10-6--105Ω—cm全量程范围检测硅的片状、棒状材料的电阻、薄层电阻，是硅材料质量监测的必需仪器。
仪器为台式结构，分为电气箱、测试架两大部分，用户可以根据测试需要安放在一般工作台或者专用工作台上，测试架由探头及压力传动机构、样品架组成，耐磨和使用寿命长的特点。探头内设有弹簧压力装置，压力从0—2Kg连续可调，测试架设有手动和电动两种装置供用户选购。
仪器电气箱主要由高灵敏的直流数字电压表和高稳定的恒流源组成，测量结果由数字直接显示，仪器有自校量程，可以方便地对仪器的电气性能进行校验。
仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、测量范围广、结构紧凑、使用方便等特点，仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科学研究部门、高等院校，对半导体材料的电阻性能测试及工艺检测。

1．范围：电阻率10-4—103Ω—cm，可扩展至105Ω—cm，分辩率为10-6Ω—cm

方块电阻10-3—103Ω /□

电阻10-6—105Ω

　　2．可测半导体尺寸：直径Φ15—150mm

　　3．测量方式：轴向、断面均可（手动测试架）

　　4．数字电压表（1）量程0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V

(2)测量误差 0.2mV档±（0.3%读数 8字）

2 mV档以上±（0.3%读数 2字）

(3)输入阻抗0.2mV、2mV挡105Ω

20mV档以上 108Ω

(4)显示3 1/2位数字显示，0—1999

具有极性和过载自动显示，小数点、单位自动显示

　　5．恒流源：（1）电流输出：直流电流0—100mA连续可调，由交流电源供给

（2）量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA 五档

（3）电流误差：±（0.3%读数 2字）

　　6．四探针测试探头 （1）探头间距：1mm (2)探针机械游率：±0.3%

(3) 探针：Φ0.5mm (4)压力：可调

　　7．测试架：

（1）手动测试架：探头上升及下降由手动操作，可以用作轴向和断面的单晶棒和硅片测试。

（2）粉末测试台　　

8．电流：220V±10% 50HZ或60HZ：功率消耗 35W

　 9．外形尺寸：电气箱130×110×400mm