基于U盘的LGATSOP封装FLASH通用测试夹具 产品特点及性能参数： 封装兼容设计，只要换座头，可兼容测试TSOP封装和LGA封装的FLASH的测试、量产。 大小兼容设计，只要换限位框，即可测试外形尺寸不同的LGAFLASH； 主控板兼容设计，只要更换主控板的主控IC，可实现芯邦，UT165，安国，SMINETWORK方案可互换！。 采用一拖四架构设计，省去外置HUB，每台电脑可同时量产16PCSFlash芯片，效率倍增； LGA测试座测试寿命可达20万次以上，是YAMAICHI和OKINS同类LGASOCKET寿命的10倍以上；并且探针可更换，维修方便，成本低； 采用手动翻盖式结构，操作方便； 上盖的压板采用特殊结构，下压平稳，保证IC的压力均匀，不移位； 高精度的定位槽，保证LGA定位精确，生产效率高； 整机24小时工作性能稳定可靠，是FLASH经销商及U盘工厂好帮手！ 探针材料：铍铜(标准)； 绝缘材料：FR-4、PPS等； 最小可做到跳距pitch=0.4mm(引脚中心到中心的距离）； 交货快：最快一天内交货。 产品主要功能： 对Flash进行清空及分类挑选。 对Nand　Flash进行格式化，测试实际可以用容量。 对Flash进行直接量产，提高U盘生产效率。 产品服务： 三个月免费保修（人为损坏除外）。 保修期外，免费维修，如果需换件，只收材料成本费。 可以免费提供相关的技术支持。 定制服务： 可以定制TF卡1拖4的夹具； 可以定制测试Flashwafer晶圆探针台； 可定制三合一开卡器； 可定制基于SSD和基于U盘FLASH的LGA测试治具； 提供基于U盘的1拖4TSOP测试夹具（兴邦、安国、迈克微），更换SOCKET可以实现LGA与TSOP共用； 可定制UDP一拖十六测试夹具； 可提供FLASH全端测试解决方案；比如，基于编程器（烧录机）原理的烧录（低端格式化）和基于U盘的低级格式化解决方案；