EXF7200型光谱测金仪技术参数硬件独特性:符合最严格的辐射防护标准的同时更具备简易的样品放置和耗材更换模式。探头指标高，性能好，寿命长；全新32位软硬件系统，工作可靠，效率高；配备高清晰的摄像定位系统，测量更直观、方便、快捷。配置固定样品用多轴向夹具。仪器系统参数液晶显示屏，操作人员可随时通过显示屏，观察到设备内部硬件的参数，例如电压﹑电流﹑温度等，能有效延长设备寿命。仪器市场负责人周艳13682384615。激发源：Mo靶的X光管风冷(无辐射）测量点尺寸：1～2mm样品室:长400mm×宽:300mm×高:0～90mm样品放大成像系统软件：菜单式软件，带硬件参数调整和数据评估及计算计算机：选择配置检测器：固定式半导体封气正比计数器微处理器控制的检测器和读出电路其它规格： 电压:100～127或200～240V,50/60Hz 最大功率:128W 最大处尺寸:490mm*500mm*350mm 重量:20kg技术指标 分析范围：0.3%～99.99% 测量时间：自适应 测量精度：±0.1% 测试环境：常温常态 分析元素：Au、Ag、Pt、Pb、Rh、Ru、Cu、Zn、Ni、Cd﹑W X射线源：X射线光管 高压器：4～50Kv 分析：多通道模拟 操作系统:Windows2000/Me/XP镀层测量： 镀层厚度范围 30 micro;m 可测量元素种类：Au、Ag、Pt、Pd、Rh、Ru、Cu、Zn、Ni、Cd 最大测量层数：5层 测量精度：0.03 micro;m