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供应矿石分析仪

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规 格: 行业标准 
单 价: 面议 
起 订:  
供货总量: 99999
发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
所在地: 福建 厦门市
有效期至: 长期有效
更新日期: 2010-09-27 19:19
浏览次数: 2
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公司基本资料信息
 
 
 
【供应矿石分析仪】详细说明
INNOV-XALPHA-4000关于矿藏的勘探、发现与开采XRF是在采矿业进行元素分析的标准技术。过去,矿工们只能收集样品送实验室分析,费用高昂,而且相当耗时。而现在Innov-X携带型XRF分析仪已经成为采矿现场工具箱中不可或缺的设备。Innov-X携带型XRF分析仪不仅缩短了测试耗时,而且削减了分析费用。它可以现场完成从磷到铀的元素分析。大部分采矿企业都实行可持续发展战略,希望最小化采矿带来的环境污染以及对健康的危害。在熔炼过程中,有害的炉渣不仅会被分析,而且分析结果还得按照应急计划和公众知情权法案(EPCRA)进行处理。美国职业安全及健康部门(OSHA)也要求参考过滤物周围空气的元素分析结果来控制有害灰尘对矿工的危害。关于美国Innov-XSystems(伊诺斯)美国Innov-XSystems公司(伊诺斯)公司于1993年7月成立于美国的波士顿市,是美国纽约证券交易所上市交易,是全球首家通过ISO9001质量体系认证的微型X荧光处理供应商,同时伊诺斯公司还通过了NATOAQAPI标准,该标准为北大西洋公约组织对精密武器及其零件供应商的最高品质要求。美国便携式环境分析仪INNOV-XALPHA-4000适用领域Innov-Xa-4000可对各种矿石进行多元素分析,广泛应用于各类矿石的检测和分析,还应用于矿渣精炼分析及考古研究。包括金矿、银矿、铜矿、铁矿、锡矿、锌矿、镍矿、钼矿、铱矿、砷矿、铅矿、钛矿、锑矿、钒矿、碘矿、硫矿、钾矿、磷矿、铀矿等从磷到铀的所有自然矿石、矿渣、岩石、泥土、泥浆。被检测的样品可以是固体、液体、粉尘、粉末、实心体、碎片、过滤物质、薄膜层等有形物体。美国便携式环境分析仪INNOV-XALPHA-4000性能介绍伊诺斯Innov-XALPHA-4000便携式矿石分析仪是现在最先进的便携式矿石分析系统,由美国Innov-XSystems公司出品。Innov-XSystems是一家专业生产和制造通用型和高性能的便携式X-射线荧光分析仪(XRF)的全球知名公司。Alpha系列分析仪为目前市场上提供体积最小、分析速度最快、功能最多、精度最高的便携式多用途掌上型X射线荧光分析仪,该分析仪可适用于任何场所,从而确保材料质量,确保材料无放射性,辐射比大理石安全。多种可选择的滤波器。可即时传送、读数,其主要部件是一根微小的X射线管和高分辩率探测器。该分析仪重量轻(1.6kg),操作简单,一键式按钮、长时间工作无疲劳感,可适用于-10 C至+50 C任何场所。Innov-XALPHA-4000分析仪可以用来对各种不同类型的矿石进行现场分析。通过现场测试的成熟的X射线管分析系统,无辐射性同位素,现场分析时能做出快速而全面的矿石类型研究,对样品要求低,但是测试结果准确,能准确分析高浓度样品,避免了验证性的实验室测试。 进行原地检测:只需将伊诺史矿石分析仪直接接触待测地面、岩石表面、反循环(RC)样品、循环气流(RAB)样品或钻核,用户即可在短时间内采集大量的数据,从而能够有效地描述矿脉、为矿石分等级以及表征潜在的环境危险。 对矿体的评估:无须等待和花费即可现场确定矿石等级。现场元素鉴定。 对铣头、精矿和矿渣的分析:对进料、精矿、和矿渣进行快速、精确的分析,以建立高效开采和富集的过程。 矿山图的绘制以及矿石等级的控制:Alpha4000伊诺史矿石分析仪可实时通过现场检测多个样品,来引导钻井程序、管理挖掘和爆破。 矿物勘探:在野外对土壤、沉积物、钻孔样品等地球化学进行测定,更高。 在铬分析方面性能最好的携带型XRF分析仪:矿石中铬的含量仅为25-45ppm也能检测到。 可对过滤介质进行检测。 可对灰尘抹布进行分析。 分析袋装或液体样品时,可方便地使用测试台美国便携式环境分析仪INNOV-XALPHA-4000PDA技术:Alpha系列塑料分析仪采用分离式PDA,更换、维修、升级方便,MicrosoftWindowsCE操作系统,界面友好、灵活、可升级,中文软件,数据即时显现,彩屏、数据线通讯、蓝牙无线通讯、SD卡通讯、CF卡通讯、EXCEL格式输出,TXTL格式输出、大容量SD卡、大容量CF卡,128M标准内存,可升级至1Gb闪存美国便携式环境分析仪INNOV-XALPHA-4000XRF资料建模技术: X射线管光源、多光束过滤技术、以及惠普个人数位助理技术(惠普掌 上型电脑),从而使其采测范围、检测速度、检测精度都非常出色,并具有极好的升级潜力。 使用了先进的和多用途的x射线资料模式 -采用康普顿常态化校正方法,可以利用 内部标准 来进行定量分析,而不需要进行专门的校正。 基本参数分析:采用半定量分析方式,适合于检验各种不同元素的构成的结构密度不均匀的样品。 实验校正法:利用 校正曲线 进行校正,允许使用用户产生的校正曲线。 配备了光谱高点识别软体,可在显示幕查看光谱。 对比光谱,参考内置标准完成比较分析。 通过更新参数或更换模式,可以利用存储的试验结果再次进行新的试验。 可以加入新的元素成份,很容易进行校正。因此,Innov-Xa-4000分析仪能够满足您当前和未来的需求。
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