CIT-3000SMP便携式X荧光分析仪是集当今最新电子技术、计算机技术和核分析方法于一体，具有国际先进水平的高灵度元素分析仪器。采用分辨率最好的进口电制冷半导体探测器和进口的微型X光光管，可以对分析样品自动分类测量，多种元素同时分析，是目前市场上分析精度最高、智能化程度最好的便携式分析仪器。适用于各种钢材、有色、黑色矿山、选矿厂、冶炼厂、购矿企业、质检站进行现场快速测量分析和地质勘探、作岩矿露头现场测量、钻孔岩蕊直接测量、坑道井壁测量和室内粉末测量.功能特点1. 采用进口电致冷Si-PIN半导体探测器，分辨率高、测量元素多.2. 采用进口小型X光管激发，一次激发全部待测元素，激发效率高，性能稳定，辐射计量小，安全可靠.3.可对粉末状或块状样品直接测量.4. 掌上电脑控制，具有蓝牙功能，可实现无线传输，遥控操作。5. 2048道多道谱仪实时测量显示，对样品X光谱进行精细分析，系统可自动识别6. 谱线，方便地了解样品的组成.7. 可一次性实现19种元素的快速、无损、准确分析.8. WinXP界面应用软件，全中文操作系统操作.9. 软件数据库功能强大，谱数据显示、谱峰标记、能量定标、净强度、预置时间等.10.自动稳谱，消除谱峰漂移影响，确保仪器长期稳定，无需反复标定工作曲线元素识别、剥离重叠谱自动进行.11.谱峰重叠时，软件可以解谱.12.线性拟合、基体校正、结果显示.3.主要技术指标1. 采用2048道多道分析器.2. 分析元素：S、P、K、Ca、Ti、V、Mn、Fe、Ni、Cu、Zn、As、Mo、Pb、Cr等（S-U）.3. 进口Si(Li)半导体探测器，优于150eV.4. 采用进口小型X光管（高压一体化）激发，管压HV：0-40KV，管流 HC：0-50uA.5. 分析范围：1ppm-99.99%6. 测量范围：1.0-35.0kev.7. 重复性： 0.1%8. 稳定性： 0.01%9. 测量时间： 200S.10.整机功耗：5W.