TEIMS-SF6动态离子分析仪以现今最新科技检测SF6开关。 仪器简介： TEIMS-SF6动态离子分析仪的设计是监控气体绝缘分站(GIS)内六氟化硫的质素。只需要简单的连接,仪器便能快速而且有效地测量间隔内污染物的总含量和六氟化硫气体当前的露点值。 1.测量六氟化硫绝缘开关内污染物的总含量： TEIMS-SF6的工作原理是根据离子飘移的波谱测量技术(IonMobilitySpectrometry)，利用内建的IMS模块，仪器先把气体以高电压分解；透过被分解气体的分子在电场内飘移的时间差来计算出气体中污染物的总含量。由于此项技术精确度甚高，即使间隔内只有微小的污染物，仪器亦可以准确地探测出来。 2.测量六氟化硫露点值： 仪器利用内附的陶瓷传感器测量间隔内微量水分含量(露点值)。由于这项技术无需把气体降温，仪器很快便能把结果计算出来；同时操作人员亦无需担心在高温的环境下仪器无法下降到特定温度的而无法进行测试的问题。 仪器特点： § 简易操作:：两键+旋钮；进行实验时无需连接计算机； § 测试时间只需5分钟； § 备有LCD，工作人员可以即时知道测试的结果； § 100个测量点记忆(测量点以任何名字贮存)； § 配合GASpector®-SF6软件，测量数据可下载至计算器作保存和分析； § 自封式连接头，防止气体泄漏； § 机身备有手柄，方便搬运和安放； § 铝合金搬运外箱。