产品品牌：华凯

产品型号：FZ-2010

SC-2010型数字式四探针测试仪是根据四探针测试原理研究成功的多用途的综合测量装置，它可以测量棒状、块状半导体材料的电阻率和半导体扩散层的薄层电阻进行测量，可以从10-6--105Ω—cm全量程范围检测硅的片状、棒状材料的电阻、薄层电阻，是硅材料质量监测的必需仪器。
仪器为台式结构，分为电气箱、测试架两大部分，用户可以根据测试需要安放在一般工作台或者专用工作台上，测试架由探头及压力传动机构、样品架组成，耐磨和使用寿命长的特点。探头内设有弹簧压力装置，压力从0—2Kg连续可调，测试架设有手动和电动两种装置供用户选购。
仪器电气箱主要由高灵敏的直流数字电压表和高稳定的恒流源组成，测量结果由数字直接显示，仪器有自校量程，可以方便地对仪器的电气性能进行校验。
仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、测量范围广、结构紧凑、使用方便等特点，仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科学研究部门、高等院校，对半导体材料的电阻性能测试及工艺检测。
仪器主要技术指标：
1． 范围：电阻率10-4—103Ω—cm，可扩展至105Ω—cm，分辩率为10-6Ω—cm
方块电阻10-3—103Ω /□
电阻10-6—105Ω
2． 可测半导体尺寸：直径Φ15—150mm
3． 测量方式：轴向、断面均可（手动测试架）
4． 数字电压表（1）量程0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V
(2)测量误差 0.2mV档±（0.3%读数 8字）
2 mV档以上±（0.3%读数 2字）
(3)输入阻抗0.2mV、2mV挡105Ω
20mV档以上