美国博曼（Bowman）半导体膜厚测试仪结合了大功率X射线管和高分辨率探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。

电制冷固态探测器确保极佳的信/躁比，从而降低检测下限。

探测器分辨率极高，能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可精确到ppm级，确保产品满足环保要求，帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。

您可以针对您的应用选择最合适的分析模型：经验系数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别出问题区域，即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品，大舱门使样品更易放入。

美国博曼（Bowman）半导体膜厚测试仪的产品特点：可检测元素范围：AL13 – U92.可同时测定5层/15种元素/共存元素校正.即放即测！通过自动定位功能，放置样品后仅需几秒，便能自动对准观察样品焦点。10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量！以最佳的设计实现微小区域下的高灵敏度，即使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅度地提高膜厚测量的精度。无标样测量！将薄膜FP软件进一步扩充，即使没有厚度标准物质也能进行高精度的测量。也可简单地测量多镀层膜和合金膜样品。通过广域观察系统更方便选择测量位置！通过广域观察系统，能够从画面上的样品整体图（最大250×200mm）中方便地指定测量位置

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