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815 KVP表及曝光时间表(电压、曝光时间表)

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规 格: 行业标准 
单 价: 面议 
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供货总量: 99999
发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
所在地: 北京
有效期至: 长期有效
更新日期: 2010-09-21 18:47
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公司基本资料信息
 
 
 
【815 KVP表及曝光时间表(电压、曝光时间表)】详细说明
815 KVP表及曝光时间表(电压、曝光时间表) 产地:美国ECC 北京华瑞森科技发展有限公司,北京东方圆通科技发展有限公司中国区域销售:美国Ecc公司 Model 815 型x射线kvp表/暴露时间测量表,它是测量钨发射出来的x射线的最大或峰值输出电压的。测量范围:45 -125 kV,精度:2% +/- 1 kV, 在 25 至 100 mA的时候。尺寸:150 x 120 x 58.5 mm ,重量:0.7 kG (1.5 lb) Ecc Model 815是一个专门为个人测量x射线强度的稳定,数字仪器,这个仪器不仅仅用在x射线加速电压,而且用在测量暴露时间长短上。 两种功能在仪器上可以kv的形式检查。一般操作说明开关设置为了保持操作简单和直接明了,仪器本身只有两个开关在前面板。开/关 按钮开/关 按钮开/关按钮是用来开关仪器的,开关是鲜艳的绿色,当仪器开着的时候它的灯将变为亮绿,当仪器不用的时候记得关闭按钮以便保存电池电量。调节开关调节开关有两个功能:1, 最初开关打开,仪器转换到 高分辨率 模式。2, Kvp读数得到后,按下这个调节开关将提供额外信息。一, 高分辨率/高速度调节模式当仪器第一次打开时,他上面会提示 通用 (normal)或 高速度 (High Speed model)模式,当使用 通常 模式时815表测量x射线时间为100ms(0.1秒)按下按钮一次将会使仪器处于 高分辨率 模式(High Resolution)下,x射线暴露取值时间不少于200ms(0.2秒)当要使用高速度模式(High Speed model)时x射线暴露时间至少要100ms(1/10秒)当在高分辨率模式下使用仪表时,暴露时间必须达到至少200ms(0.2秒)当仪表设置在高分辨率模式下时,他将保持在高分辨模式下知道它被关闭,要想在高速度或通用模式下使用时,先关掉电源然后再打开,在关于使用高分辨率操作的说明在以下的章节有更详细的说明。二, 附加信息显示测量过后,kvp值将会显示。附加信息将会随着按钮按下瞬间显示,仪表将会接着显示下面的信息:● 波形类型● 暴露时间同时返回到kvp方式。波形类型和暴露时间将会依次在1.2秒的时间里显示,附加信息显示完毕之后,显示将会回复到kvp模式,这时表将会为下次读数做准备。如果电池电量太低则 电量低 ( Batt low )信息提示也会在1.2s内显示。操作Kvp测量为了使用Model 815型x射线表进行kvp测量,在很多的情况下它只须打开这个仪器就可以直接测量。但是要把检测的目标放在灯的中心位置,这样就可以检测到暴露值。为了保证得到精确的读数以下几点要记住。1、 电流(mA)当Model 815 所测的目标在合适的位置则它的操作精度减少到70mA,最好的精度是在10mA到50mA之间得到。2、 高度对于半波x射线在7到15mA输出范围内,它的锥形波形应该在高于仪器1/2到2英寸处对于x射线在25到100mA输出,把仪器放在仪器上方8到16英寸处(1英寸=2.540cm)3、 校准(collimation)X射线校准要以2 每次地向目标中心移动。4、 暴露时间它有两种模式需要不同的暴露时间。在 通常 或 高速 模式下暴露时间必须至少在0.1秒(100ms)仪器可在100ms暴露时间里测到kvp值,为了减少顶部的磨损破裂和在射线下操作。暴露时间大于100ms是没有必要的,当仪器用于测量暴露时间,稍微长一点的暴露是允许的。在高分辨率模式下x射线曝光时间至少在0.2s(200ms)仪器在第一个200ms时间之间测得kvp值为了减少顶部的磨损和破裂,在射线下操作。暴露时间大于200ms是没有必要的。当仪器用于测量曝光时间时,长的暴露时间是允许的。5、 波形这个仪器在测量最大值或峰值加速电压时为了使x射线的稳定一般要求x射线暴露时间在30ms时间以外应该再稍有延迟。仪器将会在剩余的时间里显示x射线暴露的加速电压的峰值。6、 初始化读数当x射线检测器不使用时它会积累电荷,当初始化开关打开时,仪器需要一条射线束才能准确地工作。暴露时间测量815型kvp表在测量暴露时间时kvp值也会被测量到,为了显示测量后暴露时间按一下白色的按钮,暴露时间将会在显示屏上以ms为单位显示结果。在 通常 或 高速 模式下,曝光时间小于100ms则不能测量。X射线暴露时间至少在100ms如果要求测量曝光时间在100ms以内的请致电去购买8700型数字x射线表。当仪器在高分辨率模式时,暴露时间少于200ms是不能被精确地测量到结果的,x射线暴露时间至少在200ms,我们推荐您使用通用模式对暴露时间进行测量。更准确的暴露时间在低的kvp/mA设置处得到,很多的高能量x射线曝光时间会因为显著的衰变使得曝光时间延长,我们主张在50到80kv、25到50mA的范围内测出暴露时间的测量。高分辨率 K815型表是一个为了减少对x射线头的损坏而专门设计的精密测量仪器,但是它有三种情况可以在较长时间里得到x射线的精确波形样图。低能量-当kvp的值在60kvp时,精确的读数可以通过设置x射线的曝光时间200ms和在高分辨率模式下提高。一些x射线检测仪特别是老式的仪器在很长一段时间里才能检测到x射线的暴露峰值,在通用模式和高速度模式下仪器会在开始测量时间前等待30ms的时间,这个等待时间,在高分辨率模式下加倍,并且实际测量时间也加倍。一些直流和多相电子束运动非常迅速,然而它有很大的过冲,如果过冲时间大于30ms在高分辨率模式下将会得到真实的kvp最大值的精确读数。以下是仪表显示的提示信息的具体描述。Rdy Fast-Unit 在快速模式下读数Rdy Hires 准备在高分辨率模式下测量AlignErr-Alignment Error 把815型表放在x射线处,开始测量OverRng X射线输出值太高,减少其值或增加射线源到815表的距离。Overscale 输出射线超过815表的测量范围Low Batt 电池电量低,这时仪器可以继续工作几小时但是精度会有影响,请快换电池。滤除因子815型kvp表有一个为钨管x射线仪校正的1.5mm厚的铝制过滤装置,当x射线有不同的过滤装置时,请根据下表提到的数字在读kvp值时适当调整。Added filtration (增加的过滤器) 60kvp 80kvp 100kvp 120kvp0.5mm -0.2 -0.5 1.0mm -0.4 -0.9 -1.1 -0.6例如你的x射线过滤装置为2.5mm的Al,也就相当于增加的过滤装置的厚度为1.0mm当读能量约为60kvp的射线值时将会高出0.8kvp。减去0.8kvp就得到正确的读数。这个值也可以是其中间的某一个。如: 当检测的射线能量在70kvp时,在0.5mm增加过滤装置时(共2.0mm)使用校正因子在0.3到0.5之间的值即0.4,也就是说,当测量70kvp能量射线在过滤装置在0.2mm Al时应在读数基础上减去0.4kvp。当射线能量在55kvp以下时这个校正因子非常小可以忽略不计。 北京华瑞森科技发展有限公司北京东方圆通科技发展有限公司北京市通州张家湾开发区光华路16号方和正圆写字楼A座209-210Tel/Fax:010-51266093(总机) 13501267210 QQ:1275041125邮编:101113E-mail:huarui51266093@163.comhttp://www.orientaltec.com http://www.huaruison.com
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