美国泛美35/35DL超声波高精度测厚仪35系列Panametrics-NDT系列35超声波高精度测厚仪在难以或是不可能进入测试材料另一侧的应用场合能提供使用简单并且经济的解决方案。这些结实耐用的袖珍型仪器能对大多数外形和大小不一的材料做稳定、重复的厚度测量。精确的厚度测量值以大数字形式显示在LCD显示屏上，或者在选项A－SCAN模式下伴随着实时波形一起显示。新功能：实时A-SCAN（波形）和调节模式（选项）B-扫描DB栅格显示35系列功能对所有的型号，声速和减薄率测量是正常模式从0.0030″到25.0″（0.08mm到635mm）的大厚度测量范围，取决于仪器和材料使用直接接触式、延迟式和水浸式探头具有默认设置和用户自定义设置应用自动－调用功能手持式，重量仅8.5oz.（0.24kg）最小/最大值模式高－低报警英制和公制单位显示（英寸/毫米）多种语言用户界面长的电池寿命35和35DL35和35DL用于大多数的应用中35和35DL可使用的探头范围从2.25到30MHz，这意味着这些多功能型仪器可以解决大部分从极薄到极厚的厚度测量应用。一般而言，高频小直径的探头用于较薄或者曲面工件的测量，并且能提高测量的精度应用从薄到厚的大多数材料薄至0.08mm（或0.003英寸）的塑料瓶、管、薄板薄至0.10mm（或0.004英寸）的金属容器、钢圈、机械加工零件气缸内孔，涡轮叶片玻璃灯泡，瓶子薄的纤维玻璃，橡胶，陶瓷和复合材料小半径曲面和容器分辨率高达0.001mm或0.0001