该冲击试验箱为待测品静置制冷，热交替冲击方式，广泛使用于电子零部件测试，半导体，电子线路板，金属化学，材料等测试设备。试验箱下部为低温蓄冷区，上部为高温蓄热区，试件(待测品)放置在试验箱中部，高温冲击时，上风门打开，形成高温内循环。低温冲击时，上风门关闭，下风门打开，形成低温内循环。如有需要，还可以与环境温度连通(通过后风门打开来实现)形成三箱法试验。序号