该冲击试验箱为待测品静置制冷、热交替冲击方式,广泛使用于电子零部件测试,半导体,电子线路板,金属化学,材料等测试设备。试验箱上部为低温蓄冷区。下部为高温蓄热区,试件(待测品)放置在试验箱中部,高温冲击时,下风门打开,形成高温内循环。低温冲击时,下风门关闭,上风门打开,形成低温内循环。如果有需要,还可以与环境温度连通(通过后风门打开来实现)形成三箱法试验。温度范围:冲击温度:-20℃-+150℃ 冷却方式: 产品执行标准:温度波动度: 0.5℃温度均匀度: 2℃恢复时间: 5min 备注:控温仪表:进口可编程触摸屏温控仪记录仪:日本进口富士喷墨记录仪工作室:304镜面不锈钢外壳:冷扎薄板表面喷图