产品名称：C测试仪产品型号：3505产品品牌：日本日置HIOKI产品编号：MC：00549 简介： 对应1MHz测试,低容量,高精度,高速测试。●反复测量精度更高，最适合生产线；●校正维修功能，减低由环境的温度变化影响；●测量导线的过长引起的阻抗变化，阻抗补正功能；●比测仪的设定值和测定值的同步显示；●2ms的高速测量；1kHz,1MHz测量；●根据BIN的测定区分容量；●比测仪和触发器同步输出功能。 技术指标： 基本参数测量参数C（电容）,D（损耗系数tan ）,Q(1/tan )测量范围C:0.000fF～15.0000mFD:0.00001～1.99999Q:0.0～19999.9基本确度（代表值）C: 0.14%rdg.D: 0.0013※测定确度=基本确度 B C D E,B～Eは各系数测量频率3505:1kHz,100kHz,1MHz,3506:1kHz,1MHz测量信号电平500mV,1Vrms输出电阻1 (在2.2mF以上的测量范围:1kHz;在22nF以上的测量范围:100kHzs),20 上述测量范围以外)显示LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定)测量时间代表值:2.0ms（FAST）※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同机能BIN分选测量功能,触发同步测量,设定测量条件保存功能,比较器测量功能,平均机能,Low-C抵抗机能,震动机能,电流检测功能,输入电压检测机能,EXTI/O输入/输出,RS-232C接口,GP-IBイ接口电源AC100/120/220/240V 10%（可选择）,50/60Hz,最大40VA体积及重量260W 100H 298Dmm,4.8kg附件电源线 1,电源备用保险丝 1 注：输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件。