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C测试仪

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规 格: 行业标准 
单 价: 面议 
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供货总量: 99999
发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
所在地: 辽宁 沈阳市
有效期至: 长期有效
更新日期: 2010-09-30 23:46
浏览次数: 2
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公司基本资料信息
 
 
 
【C测试仪】详细说明
产品名称:C测试仪产品型号:3504-40产品品牌:日本日置HIOKI产品编号:MC:00546 简介: 封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等。●高速测量2ms;●能根据C和D(损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断;●对应测试线,比侧仪功能/触发输出功能;●3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试;●3504-40记录工具,实现高速/低成本的测试;●查出全机测量中的接触错误,提高成品率。 技术指标: 基本参数测量参数Cs,Cp(电容),D(损耗系数tan )测量范围C:0.9400pF~20.0000mFD:0.00001~1.99000基本确度(代表值)C: 0.09%rdg. 10dgt.,D: 0.0016※测定确度=基本确度 B C D E,B~Eは各系数测量频率120Hz,1kHz测量信号电平恒定电压模式:100mV(仅限3504-60)500mV,1V测量范围:CV100mV:~170 F量程(测量频率1kHz),~1.45mF量程(测量频率120Hz)CV500mV:~170 F量程(测量频率1kHz),~1.45mF量程(测量频率120Hz)CV1V:~70 F量程(测量频率1kHz),~700 F量程(测量频率120Hz)输出电阻5 (开路端子电压模式,上述测量范围以外)显示发光二级管(6行表示,满量程计算器根据量程而定)测量时间典型值:2.0ms(1kHz,FAST)※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同机能4端子控制检测功能(仅限3504-60),BIN测量(除去3504-40),触发同时输出,储存测量条件,比较测量值的场强,平均值功能,Low-C抑制功能,鸣叫功能,控制用输出入(EXT.I/O),RS-232C界面(标准装备),GP-IB接口(3504-40除外)电源AC100/120/220/240V 10%(可选择),50/60Hz,最大110VA体积及重量260W 100H 220Dmm,3.8kg附件电源线 1,预备电源保险丝 1,接地适配器 1 注:输入用探头/测试夹具,实体不附带。按照测量目的,不同型号有不同的探头/测试夹具选件(不能单独使用,测量时需要选用测试冶具或探头)。
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