成套两探针测试仪型号：KDK-KDY-2产品名称：成套两探针测试仪(测锗锭专用)产品型号：KDK-KDY-2生产厂商：北京恒奥德仪器仪表有限公司产品编号：产品单价：所属栏目：热卖产品产品简介 KDK-KDY-2型两探针电阻率测试仪是按照我国国家标准及美国材料与试验协会（ASTM）推荐的材料验收检测方法 两探针法 设计。它适合于测量模截面尺寸是可测量的，而且棒的长度大于横截面线度的有规则的长棒，例如横断面为圆形、正方形、长方形或梯形的单晶或多晶锭。由于两探针法的测量电流是从长棒两端进出，远离电压测量探针，因此电流流过金属与半导体接触处产生的许多副效应（如珀尔帖效应、塞贝克效应、少子注入效应等），对测量的影响较小，因此两探针法的测量精度一般优于四探针法。特别是对多晶材料的测量，由于多晶晶粒间界处，杂质局部偏析可能导致电阻率较大变化，这种影响对四探针法更为严重，故不推荐用四探针法测量多晶材料的电阻率。本仪器除适合测量体形有规则的单晶棒外，也适合测量多晶棒。两探针法测量水平区熔多晶锗电阻率，在我国已有四十多年的实践经验，对区熔锗锭横截面面积的变化已总结出一套计算方法，本仪器采用李贺成教授提出的计算公式编写程序，可用微机HQ-710C处理区熔锗锭的测量数据，或采用KDK-KDY测量系统专用软件测量数据，并根据北京有色金属研究总院余怀之教授的提议，扩大了微处理机的数据处理范围。