简介:品名稱:粉體阻抗測定系統MCP-PD51特色:﹢用於研究開發、品質管理第一線,執行粉體之物性管理﹢與阻抗率計Loresta-GP,Hiresta-UP連接,以測定廣範圍之粉體之低阻抗、高阻抗﹢樣品的交換、清掃簡單、可採一觸式著離探頭﹢各種粉體的形狀,粒徑分布之不同依壓力依存性把握其阻抗率及壓縮容積﹢測定及數據、備有達執行圖形化之軟體以供選購測定對象:金屬粉、碳粉類、陶磁粉 等導電性粉體 详细描述:阻抗率自動測定系統特色:測定演算、數據處理,3次元圖形輸出完全自動化,可應用至基板尺寸650 650mm之長方形、圓形樣品, 邊緣之影響 被補正,依[MCC方法]測定例測定對象:ITO玻璃、薄膜,各種金屬薄膜、各種導電性薄膜、薄片型號:﹢低阻抗率型式:MCP-S620(650 650mm),MCP-S521(450 450mm)﹢高阻抗率型式:MCP-S600(400 400mm)