KDK-KDY-2型两探针电阻率测试仪产品简介 KDK-KDY-2型两探针电阻率测试仪(以下简称两探针仪)是按照我国国家标准仪器采用GB/T1551-1995硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法及美国材料与试验协会(ASTM)推荐的材料验收检测方法 两探针法 设计。它适用于测量横截面积均匀的圆形、方形、或矩形单晶锭的电阻率。由于两探针法的测量电流是从长棒两端进出,远离电压测量探针,因此电流流过金属与半导体接触处产生的许多副效应(如珀尔帖效应、塞贝克效应、少子注入效应等),对测量的影响较小,因此两探针法的测量精度一般优于四探针法。特别是对多晶材料的测量,由于多晶晶粒间界处,杂质局部偏析可能导致电阻率较大变化,这种影响对四探针法更为严重,故不推荐用四探针法测量多晶检验棒的电阻率。 本仪器主要由电气测量部份(简称:主机)、测试台及两探针头组成。仪器的特点是主机配置双数字表,在测量电阻率的同时,另一块数字表(以万分之几的精度)适时监测全程的电流变化,免除了测量电流/测量电阻率的转换,更及时掌控测量电流。主机还提供精度为0.05%的恒流源,使测量电流高度稳定。本机配有恒流开关,在测量某些材料时,可免除探针尖与被测材料之间接触火花的发生,更好地保护被测材料。仪器配置了本公司的专利产品: 小游移探针头 ,间距为1.59mm的两探针头探针游移率在0.2%以下。保证了仪器测量电阻率的重复性的准确度。本机可配用KDY测量系统,设计语言为VC++,可对四探针、两探针电阻率测量数据进行处理并修正测量数据,特定数据存储格式,显示变化曲线、正反向电阻率平均值、电阻率的最大值、电阻率最小值,给测量带来很大方便。兼容性:适用于通用电脑,支持WindowsXP、Vista。