KDK-LT-100C数字式硅晶体少子寿命测试仪产品简介 为解决太阳能单晶、多晶少子寿命测量，特按照国标GB/T1553及SEMIMF-1535用高频光电导法研制出了数字式少子寿命测试仪。 该设备是按照国家标准GB/T1553 硅单晶少数载流子寿命测定的高频光电导衰减法 设计制造。高频光电导衰减法在我国半导体集成电路、晶体管、整流器件、核探测器行业已运用了三十多年，积累了丰富的使用经验，经过数次全国十多个单位巡回测试的考验，证明是一种成熟可靠的测试方法，特别适合于硅块、硅棒研磨面的少子体寿命测量；也可对硅片进行测量，给出相对寿命值。方法本身对样品表面的要求为研磨面，制样简便。