HHDW系列为通用型物位计用于连续物位的测量，产品应用于工矿现场，适用于大多数应用场合，仪表由一个电路单套防爆外壳和杆式或缆式传感元件组成，传感器有多种型号可选，仪表可选整体和分体安装。用于连续测量。 测量原理 射频导纳物位控制技术是一种从电容式物位控制技术发展起来的、防挂料、更可靠、更准确、适用性更广的物位控制技术，是电容物位计的技术升级， 射频导纳 中 导纳 的含义为电学中阻抗的倒数，它由阻性成分、容性成分、感性成分综合而成，而 射频 即高额，所以射频导纳技术可以理解为用高频测量导纳。高频正弦振荡器输出一个稳定的测量信号源，利用电桥原理，以精确测量安装在待测容器中的传感器上的导纳，在直接作用模式下，仪表的输出随物位的升高而增加。对一个强导电性物料的容器，由于物料是导电的，对变送器探头来说仅表现为一个纯电容，随着容器排料，探杆上产生挂料，这样便产生挂料误差，且导电性越强误误差越大。从电学角度来看，挂料层相当于一个电阻，传感元件被挂料覆盖的部分相当于一条由无数个无穷小的电容和电阻元件组成部分的阻抗和容抗数值相等，因此用交流鉴相采样器可以分别测量电容和电阻。测得的总电容相当于C物位+C挂料，再减去与C挂料相等的电阻R，就可以获得物位真实值，从而排除挂料的影响。 即C测量=C物位+C挂料C物位=C测量-C挂料=C测量-R