扫描白光干涉显微仪产品特点及用途结合光学显微镜与白光干涉仪功能的扫描式白光干涉显微镜，结合显微物镜与干涉仪、不需要复杂光调整程序，兼顾体积小、纳米分辨率、易学易用等优点，可提供垂直扫描高度达400um的微三维测量，适合各种材料与微组件表面特征和微尺寸检测。应用领域包含：● 晶体（Wafer）● 光盘/硬蝶（DVDDisk/HardDisk）● 平面电组件（MEMSComponents）● 平面液晶显示器（LCD）● 高密度线路印刷电路板（HDIPCB）● IC封装（ICPackage）以上其它材料分析与组件微表面研究详细内容请见万濠网页