Werth测量机的测量范围从几十个毫米到数米，精度从几个微米到百个纳米，测量分辨率最高到达1个纳米，可以集成进去使用的测量传感器：接触式单点、接触式扫描、低接触力测头、激 光、激光线扫描、快速激光、WERTH光纤侧头，WERTH光学测头、普通光学测头、可见光干涉测头、接触式和激光复合的粗糙度测头，WERTHCT(X光高精度)测头等十多种。Werth Low Force Probe LFP：应用优点 ◆ 适合于橡胶件，塑料件，薄壁件和其它灵活材料零件的测量◆ 由于LFP的接触力非常之小，可以省去复杂的工件装卡◆ 由于LFP的接触力非常之小，测量杆可以做到非常长(40毫米)或者非常短(0.3到1.6毫米)，测量头的直径也可以做得非常小◆ LFP的构造(没有可移动件，非磁性的材料)使其可以测量带有磁性的工件◆ 全面地集成到Werth多传感器测量概念中◆ 超高精度的5向接触的测头 ◆ 安装选项 -在PH6或者PH1头部的M8螺纹上安装 -通过在PH10M上的自动连接器PAA1，连接头SP25/SP600或者MIH *) 最大的可靠的接触测量偏差；使用Werth 标准体，根据ISO 10360和VDI 2617 技术数据：◆接触力小于0.0001牛顿◆测量方向+/-X,+/-Y,+Z◆接触精度MPE* （测量头连接杆的长度40毫米，测量头的直径为1毫米）:◆单点测量： P1:0.75 m P2:1.5 m P3:4.5 m