复杂的高精度元件已成为世界工业领域的趋势。很小的微米级公差成为当今的标准。施奈德博士测量技术生产的3D复合式坐标测量仪可完全满足这种质量要求。SKM系列的复合式坐标测量系统除了传统的光学探头（光学放大物镜）外，还可配备接触式触头系统以及激光无接触触头系统，在光学探头的基础上，用户可以根据需要选择其中的一种或全部触头系统作为附加测量系统。接触式触头系统可分为Renishaw触发式（开关式）TP200及扫描式（测量式）SP600，SP25。另外，垂直的激光触头特别适合於小孔测量。-精密的花岗石机座，包括高度（Z轴）调整装置-高精度测台：金属测台，表面镀镍，滚针轴承导轨-三轴金属光栅，数显精度0.0001mm-高分辨率黑白CCD摄像机-远焦光路LED透射光源-环行LED表面光源-三轴CNC伺服电机控制系统-高配置控制和测量计算机-正版WindowsXP操作系统-高精度1.5x远焦平场物镜-3D测量及数据处理软件Saphir基础功能