用 途1、百分表、千分表、超级千分表（万分表、十万分表、百万分表）等统称为表类量具，在各种制造业中应用十分广泛，使用十分频繁， 必须对它们的示值误差等主要参数进行定期复查（检定周期通常是半年、一年或两年，视使用频繁程度及磨损状况而定），以确保使 用质量。本公司根据用户需求，专门研制生产了通用表类检测仪，用以快速精密检定各种表类量具。该仪器可检测示值误差、示值变 化、回程误差、径向受力示值变化、表类量具齿轮齿条节距误差、渐开线齿形误差、光栅细分误差等参数指标。即用万分表作基准检 验千分表或百分表，用十万分表作基准检验万分表，用百万分表（10毫米纳米测长仪）作基准检验十万分表或万分表，依次类推。2、 电感传感器、电容传感器、涡流传感器、应变传感器等各种测长、测微器具，其示值误差、非线性误差、电路细分误差（电子内插 误差）等主要参数必须严格检查，并且定期复查，才能确保使用质量。本公司研制生产的表类检测仪有若干精密度、准确度档级，从微 米、亚微米量级直至纳米、亚纳米量级，用户可根据需要选择不同档级的仪器检测相应的各种传感器。高档的表类检测仪还可检测激 光干涉仪的干涉条纹细分误差、光学非线性误差和短量程示值误差，可作为激光干涉仪精度分级的参考比对仪器。 构 成 动态检测仪由基准传感器、测量台架、电动抬落机构、电动控制盒、数显装置等组成。静态检测仪由基准传感器、测量台架、数显装置等组成。 特 点*精度高。本仪器的测量基准是比被检传感器高出约1个量级的光电传感器，其核心测量元件是本公司特有的纳米光栅。这种纳米光栅 是在特制的光栅刻划机上，使用特殊技术，依靠光波波长平均定位刻制而成。实质上，这种纳米光栅就是一种刻录、固化到玻璃表面 上的光波波长。它不受空气折射率、大气压力、湿度等因素的影响，受环境温度的影响大为降低，可以获得十分稳定的读数。在100 毫米长度上最大位置误差可小于 20纳米。* 本仪器在总体结构上严格符合Abbe原理，被测传感器与基准传感器严格处在同一轴线上，确保了很高的测量精度。*效率高。无论100个、1000个或10000个测点，都在一次扫描中完成自动测量、自动记录，总共需时20秒钟左右，所以效率很高。并 且大大减少了环境温度变化和震动的影响。* 测点密。在10毫米量程范围内一次扫描测量可以迅速得到100-1000个测点，即每隔0.1毫米或0.01毫米得到一个测点。如果需要，可 将测点进一步局部加密，对某些可疑之处或误差突变之处实行加密扫描测量，例如可以每隔10微米、1微米、0.1微米甚至0.001微米 测量一个点，获得极其细微的误差分布曲线。* 动静两用。本仪器既可动态测量，又可静态测量。对于检测百分表、千分表、光学计、乌式干涉仪、机械比较仪等人工读数的检具可 以使用静态测量（手动测量）；对于各种传感器可以实行动态测量（自动测量）。* 智能功能。本仪器内置单片微机，具有多种智能功能，如自动求最大值、最小值、峰峰值、任意清零、公/英制转换，并且具有计算 机接口，可以与计算机通讯，实现数据自动处理、自动打印、自动绘制误差曲线等。 主要参数 型号数显分辨率最大示值误差自动检测效率直接测量范围BL-010.1 m (0.4+0.04L) m20秒/每台0-10mmBL-0010.01 m (0.1+0.01L) m20秒/每台0-10mmBL-00050.005 m (0.04+0.004L) m20秒/每台0-10mmBL-00010.001 m (0.02+0.002L) m20秒/每台0-10mm