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Hawk 200三维测量显微镜高精度测量显微镜

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规 格: 行业标准 
单 价: 面议 
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供货总量: 99999
发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
所在地: 上海
有效期至: 长期有效
更新日期: 2010-09-21 21:30
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公司基本资料信息
 
 
 
【Hawk 200三维测量显微镜高精度测量显微镜】详细说明
Hawk200三维测量显微镜-综述英国工业显微镜有限公司的Hawk200非接触式测量显微镜提供高可重复性的精度,能针对任何材料制造的复杂元器件进行3-坐标测量。从简单的手工、单一特性作业至复杂的元器部件测量,Hawk200为各类的测量要求提供组合式的和灵活的解决方案。复杂元器件的准确测量通过使用高对比度、高分辨率光学成像来完成,为快捷和简易的测量,能提供强化的表面清晰度。关键的零部件能绝对地被测量。Hawk200三坐标测量机-详细说明Hawk200是以精密和简易为主而设计,从而非常适用于对各类型的元器件形状的常规质量管理。Hawk200给予令人钦佩的精确度、可重复性以及重现性,并有各类的选配件和附属配件可供选配,其中包括成像采集、全几何的计算机数据处理和视频边缘辨别(VED)。优异的光学技术精密元器件的精确非接触式测量要求高分辨率、高对比度成像、和结合一个精密的测量平台。Hawk200采用英国工业显微镜有限公司的专利高能光学技术,为快捷和简易的测量,提供强化的表面清晰度。优异的光学透明度同时能同步地进行细致的视觉检测。有所视频系统数码化光学信息。Hawk200与其区别之处,是运用一个没经过测量前处理的纯光学成像。元器部件必能准确地被测量。精密测量平台Hawk200可选配各种高规范、高性能的测量平台,提供测量规格可达400毫米x300毫米(16英吋x12英吋)。所有的测量平台均已通过非线性误差修正(NLEC)方法进行出厂前的预装校准,以保证优良的精度,这校准可溯及NPL/NAMAS/NIST国际标准以符合ISO9000质量认证。结合0.5 m分辨力的测量译码器,这绝对保证该系统2 m的可重复性精度。*直观的微处理器数据处理由QC-200多功能微处理器完成,QC-200最适用于测量普通元器件的外貌特征,例如圆、角、线、弧及距离,并且以操作简便为主而设计,采用了一个直观的界面装置及有实质的视觉显示。X、Y和Z坐标测量是以数字和图解形式表示。输出连接包括USB端口、并联端口和串联端口。选配件和附属配件表面光和底部光照明装置选配件能使光源调节适用于任何测量应用。表面光照明装置由一组6-点光的无影环形灯提供,可加装同轴光装置(光线透过物镜)的选配件,用于观察盲孔或深层形状。快速更换的低放大倍率选配件为:x10倍、x20倍、x50倍和x100倍(x20倍作为标配),配置高倍率物镜,并可装插在四孔位的物镜转换器上,其放大倍率为:x50倍、x100倍、x200倍、x500倍和x1000倍。轮廓表面轮廓和表面*采用200毫米x150毫米的测量平台(x200的系统放大倍率,控温摄氏20度,使用在玻璃格栅上可追溯镀铬件以及在标准测量平面上的交叉点)
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