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供应三坐标成像测量系统TESA VI

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规 格: 行业标准 
单 价: 面议 
起 订:  
供货总量: 99999
发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
所在地: 上海
有效期至: 长期有效
更新日期: 2010-09-21 21:55
浏览次数: 2
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公司基本资料信息
 
 
 
【供应三坐标成像测量系统TESA VI】详细说明
技术参数TESAVISIO500技术参数测量范围400mmxY=500x300mm(取决于机器的配置)精度E2(X/Y)=2+5L/1000E1(Z)=3+8L/1000放大倍率:20-240x(Max480X)TESAVISIO300技术参数 精度E2(X/Y)=2.4+4L/1000E1(Z)=3+10L/1000放大倍率:30-175x(Max350X)主要特点技术特征-Value和Universal均可通过影像测量和接触测头TESASTAR-p或TESASTAR-mp进行影像和接触测量。-Value可以用TESASTAR-m或TESASTARIM8可旋转角度测头实现100%接触测量。-Universal可以配备激光测头,完成多种方式的扫描,扫描速度为500点/秒。仪器介绍卓越的影像测量仪新型的VISIO采用活动桥式结构和气浮轴承保证了高速和高精度的测量,安装在Z轴光学镜头保证了高的可靠性。TESAVISIO500有两款可供选择,每款均有更大的测量行程,Value型可进行影像和接触测量,Universal型可以多种传感器相连接,功能更强大。TESAVisio300DCC全自动影像测量仪配备功能强大的PCDMIS软件将大大提高您的测量效率和设备的测量能力,非常适合复杂零件或批量零件的检测。 TESAVISIO200小量程的光学影像测量仪采用了花岗岩底座保证了高的稳定性,X轴快速释放开关可用于X轴的快速移动。
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