梅特勒-托利多基础型分析天平AB-204S的性能：采用高分辨率的称量单元，满足用户高精度的称量需求称量单元保护装置（CellProtector），提高产品的抗冲击、过载性能坚固的金属机架，避免称量样品的污染，延长天平的使用寿命可读性为0.1mg天平采用背亮式液晶显示屏（BacklitLCD），方便用户读取称量结果内置砝码校准，确保称量结果的准确性双量程（DualRange）设计，满足客户对不同样品的称量需求可以拆除的防风罩设计，实现天平的快速清洁内置RS232通讯接口，方便连接打印机、电脑等外围设备标配机架塑料保护罩（Protectivecover），避免散落样品的腐蚀具有简单称量、百分比称量、计件称量和动态称量等内置应用程序梅特勒-托利多基础型分析天平AB-204S的技术参数：基础型分析天平AB-S系列AB135-SAB265-SAB54-SAB104-SAB204-SAB304-S 双量程双量程 可读性0.01/0.1mg0.01/0.1mg0.1mg0.1mg0.1mg0.1mg最大称量值31/120g61/220g51g110g220g320g重复性(s)0.03/0.1mg0.05/0.1mg0.1mg0.1mg0.1mg0.1mg线性±0.2mg*±0.2mg*±0.2mg±0.2mg±0.2mg±0.2mg秤盘尺寸(mm)Φ80Φ80Φ80Φ80Φ80Φ80防风罩有效高度(mm)237237237237237237外形尺寸(W×D×H)(mm)245×321×344*精细量程内10g样品典型数据：±0.03mg