X-Strata980(X荧光镀层测厚及元素分析仪)产品简介：X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保极佳的信/躁比，从而降低检测下限。探测器分辨率极高，能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可精确到ppm级，确保产品满足环保要求，帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。您可以针对您的应用选择最合适的分析模型：经验系数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别出问题区域，即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品，大舱门使样品更易放入。应用:--RoHS/WEEE--有害元素痕量分析--焊料合金成分分析和镀层厚度测量--电子产品中金和钯镀层的厚度测量--五金电镀、CVD、PVD镀层的厚度测量--贵金属合金分析和牌号鉴定产品特点:--100瓦X射线管--25mm2PIN探测器--多准直器配置--扫描分析及元素分布成像功能--灵活运用多种分析模型--清晰显示样品合格/不合格--超大样品舱--同时分析元素含量和镀层厚度技术参数:--元素范围:S(16)toU(92)--可测镀层层数:5层(4层+底材),可同时分析25种元素成份--X射线管功率:100W(50kVand2mA)微焦点钨靶X射线管--探测器:25mm2PIN电制冷固态探测器--滤波器/准直器:4种初级滤波器/最多安装4种准直器规格(0.1,0.2,0.3,1.27mm?)--数字脉冲处理器:4096通道数字多道分析器,包含自动波谱校正和PulsePileRejection功能--电脑/显示器/系统软件Celeron,1.86GHz,40GbHD,512MbRAM,相同或更高配置15”LCD,1024x768MicrosoftTMXPSP2--摄像系统:1/2”CMOS-640x480VGAresolution--电源:85~130Vor215~265V,频率47Hzto63Hz--工作环境:10－40℃、相对湿度小于98%，无冷凝水--XYZ轴行程:203x152x216mm(8x6x8.5”)--最大样品尺寸305x390mm(12x15.4”)，样品高度为50mm(2”)305x352mm(12x13.9”)，样品高度为203mm(8”)--舱室尺寸:(WxDxH):584x508x220mm(23x20x8.7”)--外型尺寸高765mm(30.1”)宽700mm(27.5”),840mm(5.5”)withonemousepadextended深790mm(31.1”),990mm(39”)withkeyboardtrayextended--重量:135kg昆山富莱仪器产品咨询热线：0512－55182520 13584988281