1. H-Type :密闭式样品室，方便测量的样品较大，高度约100mm以下。 2. L-Type : 密闭式样品室，方便测量 样品较小，高度约30mm以下。 3. PCB-Type : 开放式样品室，方便大面积的如大型电路板高度约30mm以下的量测【详细说明】

x射线镀层测厚仪产品介绍

X 萤光射线膜厚分析仪是利用 XRF 原理来分析测量金属厚度及物质成分，可用於材料的涂层 / 镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。

XRF-2000 系列分为以下三种：

1. H-Type :密闭式样品室，方便测量的样品较大，高度约100mm以下。

2. L-Type : 密闭式样品室，方便测量 样品较小，高度约30mm以下。

3. PCB-Type : 开放式样品室，方便大面积的如大型电路板高度约30mm以下的量测 。

x射线镀层测厚仪应用 :

测量镀金、涂层、薄膜、元素的成分或者是厚度，其可侦测元素的范围： Ti（22）——U（92 ）。

行业 :

五金类、螺丝类、 PCB 类、连接器端子类行业、电镀类等。

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