温度冲击试验箱适用于电子元气件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等,同时通过此装备试验,可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。
产品名称:LP/2XCJ-225高低温冲击试验箱
外型尺寸171*102*184.5
样品区尺寸40*40*45
一、温度冲击试验箱技术指标
1、温度范围:-40℃~环境温度(≤5min)~150℃
2、高温蓄热箱:50℃~200℃
3、低温蓄冷箱:-40~10℃
4、温度波动度:±1℃
5、温度误差:±2℃
6、预冷下限温度:≤-45℃
7、工作室冲击温度:-40℃~150℃
8、温度恢复时间:≤5min
9、全自动转换装置.清洁无污染
10、应用