HLD-W-III型金属电子逸出功实验仪本仪器综合应用了直线测定法、外延测量法和补偿测量法等基本实验方法，在数据处理方面有比较好的技巧性训练。主要用来测量金属电子的逸出功、二极管的伏安特性以及电子荷质比。该仪器采用一体化设计，美观大方，便于操作 技术指示：1、理想二极管灯丝：纯钨丝2、理想二极管电源：灯丝电流0.52~0.78A，电流调整率0.2%（测试条件：Vi=10V，V0=5V）3、阳极电压：0~150V，电压调整率0.5%/V（测试条件：Vi=198~242V）