类型涂层测厚仪品牌时代型号时代涂层测厚仪测量范围0-1250um/0-40um（mm）TT230涡流测厚仪|氧化膜测厚仪是一种超小型测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量；可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域；该仪器体积小、测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。符合以下标准：GB/T4957-1985涡流方法JJG818-93《电涡流式测厚仪》JB/T8393-1996磁性和涡流覆层测厚仪涂层测厚仪功能特点采用了涡流测厚法，可无损伤地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度（如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层）可进行零点校准及二点校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）具有两种工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据设有五个统计量：平均值、最大值（MAX）、最小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差具有米、英制转换功能具有打印功能，可打印测量值、统计值具有欠压指示功能操作过程有蜂鸣声提示具有错误提示功能具有自动关机功能涂层测厚仪技术参数测头类型：N测量原理：电涡流测量范围：0-1250um|0-40um(铜上镀铬)低限分辨力：1μm(10um以下为0.1um)探头连接方式：一体化示值误差：一点校准(um)：±[3%H+1.5]两点校准(um)：±[（1%~3%）H+1.5]测量条件：最小曲率半径(mm)：凸3|凹10基体最小面积的直径(mm)：ф5最小临界厚度(mm)：0.3温湿度：0~40℃|20%RH～90%RH统计功能：平均值、最大值（MAX）、最小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）上下限设置：无存储能力：15个测量值打印/连接计算机：可选配打印机/能连接电脑关机方式：自动电源：二节3.6V镍镉电池外形尺寸：150×55.5×23mm重量：150g涂层测厚仪基本配置主机铝基体标准片一套|五片充电器使用说明书