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| 加工定制:否 | 光源:- |
| 波长范围:-（nm） | 焦距:-（mm） |
| 外形尺寸:-（mm） | 重量:-（g） |
| 适用范围:- | 属性:属性值 |
一、产品简介
SLF-I反射率测定仪(获得国家专利权，专利号：200320109018.2) SLF-I反射率测定仪主要用于漆膜遮盖力的测定和反射率的测量，完全符合国家标准GB/T13452.3-92、GB9270-88、GB5211.17-88对该仪器的规定。获得计量产品生产许可证。
二、技术指标
测量范围：0～100
输入电源：220V,50Hz
重复精度：0.3%，
示值误差：±1
环境范围：25℃，
相对湿度： 85%
