X650B可为电镀客户提供更佳的X荧光测量方案，X射线从上向下照射样品，不同大小形状的样品更方便放置及测量。X650B的自动操作系统为用户提供方便可靠的镀层测厚、镀液分析、简单元素分析或贵金属分析方案。标准配置为20倍彩色CCD系统用于样品图象观察；XYZ三维移动样品台；单准直器及多准直器可选，样品托盘自动弹出功能，激光对焦及定位系统，二次滤光片多种可选方式及封气式正比计数器。 优特完善的X荧光分析软件基于基本参数法（FP法）或校正曲线法，确保了完美的测量结果。仪器易于操作，软件界面更具人性化。元素含量分析指标分析范围：100PPM-99.99%准确度：相对误差5%以内精密度：相对标准差5%以内检出限：100PPM 测试时间镀层测厚：10-100秒元素分析：60-300秒 X光管50W(4-50KV0-1.0mA)标配样品台简易手动样品台，Z轴升降调节，操作简单探测器正比计数器测试软件基本参数法滤光器二次滤光重量 100千克 准直器Standardconfiguration:1collimator(Ф3mm/Ф1mm/Ф0.5mm/Ф0.2mm/Ф0.1mm);Multi-collimatorsOptions软件镀层测厚软件，元素分析软件样品观察CCD高精度彩色摄像头配套标准液体测量杯对焦系统镭射对焦稳压系统UPS稳压电源测量方向从上向下电脑联想电脑可测元素K到U打印机彩色喷墨打印机