深圳市华唯计量技术开发有限公司是一家以XRF产品为核心的集研发、制造、销售、专业技术方案提供、实施为一体的高科技企业。华唯技术发端于1986年，历国家 七 五 科技攻关计划，距今已整整22载，积 七 五 九 五 科技攻关项目中X荧光分析核心技术、穷原攻关组、核心成员之心力，研制开发出一系列居于国际领先水平的X荧光分析设备，并分别荣获国家科技进步三等奖、建设部科学进步二等奖等国家级荣誉，这也是迄今X荧光分析技术领域的国家级最高荣誉。依靠世界顶级技术专家组成的研发团队，造就了居于国际技术领先地位的X荧光分析产品，已广泛应用于各类元素（Na-U)的识别、检测与成份分析，特别适用于 RoHS 及中国 RoHS 体系的检测与制程品控环节。 自选式功能组合 用户根据自己的控制要求，可自主选择多元素测试软件或膜厚测试软件（二选一） 全自动配置 自动化的操作系统、人性化的操作界面，通过鼠标即可完成全程操作（真空控制、原级滤光片、准直器、二次滤光片、样品及测试区域定位、样品盖开关、工作曲线选择全部实现自动化控制，程序会根据测试条件自动进行所有切换与设定动作），避免了操作失误、全面确保检测品质。 照射区精确控制系统 可精确调整的X光照射区域控制系统，实现了对测试区域的准确把握。从根本上保证测试数据与实际检测区域的完美对应。 成熟、经典的分析方法 凭借国家 七 五 九 五 科技攻关计划之科技成果，集成近二十五年分析测试应用经验的经典数学分析模型，为测试者提供可靠、精准、稳定的分析结果。 强大的软件功能 度智能化设计使操作更加简便，轻松成为测试专家。可根据测试情况，自动设定各操作单元动作及相关技术参数。既保证了相关器件的寿命，又全面提高工作效率。全自动高精度背景拟合、多元回归等解谱方法的应用，使复杂材质的检测更加准确、便捷。特别预置的谱图对比功能，很方便的实现历史谱图与被测谱图的对比，利于对检测数据突变材质的准确分析与进一步研究，帮助企业提升风险分析能力及应对水平。简单、迅速的数据管理与报告输出格式，方便用户进行相关的数据管理与报告输出。 开放性工作曲线 用户可很方便的根据自身材质状况，针对性的建立风险材料的专用工作曲线，全面提高工作曲线与被测材料的对应性。从而大幅度提升风险物质的检测精度，全面提升来料允收判定依据的可靠性。 严谨的硬件集成与结构设计对可能影响整机精确度及稳定性的核心器件，全部采用进口高端原厂器件。模块化设计与组件选择，确保了整机性能的稳定性与未来服务的操作简便性。特别设计的原级、二次滤光系统，既保证了对有害元素的激发效率，同时全面降低了作为干扰因素的背景强度，充分提高峰背比，大幅度降低检出下限。 全光路射线防护系统 领先业界的全光路三重防护系统（软件防护、硬件防护、迷宫式结构），根本上避免了故障、误操作等可能的辐射伤害。确保机器操作过程中对外辐射量低于环境本底值，开盖测量除外。大样品进行开盖测量时的特别警示系统，确保用户在该类物质测试过程中的安全保障。全光路防护的结构设计，删减了无射线区域的无必要防护，进一步确保了整机散热质量，全面提升系统的环境适应性与稳定性。