4156C精密半导体参数测试仪是Agilent下一代的精密半导体参数测试仪，4156C为高级器件表征提供了高精度顶级参数分析的实验室平台。较高的低电流、低电压分辨率和内置准静态CV测量能力，4156C还为以后和其他的测量仪器的扩展使用提供了坚实的基础。41501B扩展测量能力到1A/200V，并给4156C增加一个低的噪声接地单元和双脉冲发生器。4156C是基于PC的参数分析和表征的解决方案，标准配置包括一个参数分析仪，AgilentI/CV3.0Lite自动测试软件，WindowsXPProfessional的操作系统。I/CV3.0Lite软件可以提供一个图形操作界面，具有强大的分析工具，探针台驱动，和自动测试工具。 特性 4156C提供4个内置的高分辨率的源/监控单元（HPSMUs），两个电压源单元（VSUs）和两个电压监控单元（VMUs） 1fA和0.2uV的测试精度可满足开发新工技术和评价材料 全Kelvin，每个HRSMU有激励源、感应和接地端 完成准静态的电容对电压测试 自动提取处理参数而不需要人工操作屏幕光标 用极低泄漏的SMUs测量特有泄露特性 用集成的脉冲发生器和选择开关自动完成器件表征 用内置的应力模式完成晶片的可靠性测试 用图形用户界面完成 点击 测试 基于Windows环境的图形数据分析能力 旋钮扫描功能可以快速检验探针是否接触正常 待机模式不需要外部电源 触发模式可以同步AC/DC测试。 IBASIC用户功能可以绘图和分析数据。