厂品说明：X射线荧光测试仪是用于镀层厚度测量和材料分析的X射线荧光系统。WinFTM （版本3（V.3）或版本6（V.6））软件是仪器的核心。它可以使仪器在没有标准片校准并保证一定测量精度的情况下测量复杂的镀层系统，同时可以对包含多达24种元素的材料进行分析（使用WinFTM V.6软件）。技术参数：型号XUL(M)XDL-BXDLM-C4XDVM-WXDVM- 测量方向从下往上从上往下从上往下从上往下从上往下X-射线管型号W:钨管MW:微聚焦钨管W或MWWMWMWMW可调节的高压30kV;40kV;50kV有有有有有开槽的测量箱体有有有有有基本Ni滤波器(可选择)有有有有有接收器(Co)可选择的WM-版本有有有数准器数目W-类型:1WM-类型:41441z-轴无无，或电机驱动或可编程的电机驱动的或可编程的可编程的可编程的测量台类型固定台面或可选的手动XY工作台固定台面或手动XY工作台或可编程的XY工作台手动XY工作台或可编程的XY工作台可编程的XY工作台可编程的XY工作台测试点的放大倍率38-184x20-180x20-180x40-568x30-1108xDCM方法(距离控制测量)有有有WinFTM 版本V.3标准V.6可选择V.3标准V.6可选择V.3标准V.6可选择V.3标准V.6可选择V.6标准操作系统：WindowsXPprof.有有有有有