30多年来，Microtrac 公司一直致力于激光散射技术在颗粒粒度分布中的应用。作为行业的先锋，早在1990年，NPA首次引入由于颗粒在悬浮体系中的布朗运动而产生的能谱概念，利用背散射和异相多谱勒频移技术，结合动态光散射理论和先进的数学处理模型，取代传统的光子相关光谱方法，将分析范围为延伸至0.003-6.5 m。随着技术的发展，Microtrac 公司不断完善其麾下的专业颗粒分析仪器，快速分析高浓度的纳米颗粒，生化材料及胶体体系成为现实，成为众多行业纳米分析的参考仪器。应用领域：有机聚和物和高分子研究，纳米金属和其他纳米无机物，结晶分析，表面活性剂胶束大小，蛋白质，甾体，DNA，RNA，极稀浓度或不宜稀释高浓度的样品分析。创新点1.最新动态光背散射技术，引入能谱概念，180 检测异相多普勒频率变化，稳定性好，重现性高，实为传统光子相关光谱方法的最佳替代品。2.专利膜电极设计，准确测量颗粒电泳速度3.先进的 Y型 光纤光路系统，精确聚焦蓝宝石测量窗口，有效消除杂散光对检测器的负面影响。无需比色皿，毛细管电泳池或外加电极池，测量同一体系的Zeta电位，避免样品交叉污染与浓度变化。4.专利的异相多谱勒频移（Heterodyne Doppler Frequency Shifts）技术，较之传统的光子相关光谱分析方法，获得颗粒散射光信号的强度高出几个数量级，提高分析结果的可靠性5.专利的可控参比方法（CRM，Controlled Reference Method），能精细分析多谱勒频移产生的能谱，确保分析的灵敏度 技术参数粒度范围：0.8纳米－6.5微米Zeta电位测量：+/-125mv电泳迁移：+/-0.4 s/volt/cm重复性：误差小于1%（标准颗粒）测量原理：动态光背散射技术及米氏理论专利技术：HDF，CRM，FFT， Ｙ 型光纤光路设计， 非球形 颗粒校正选项，微电场设计技术检测角度：180 浓度范围：0.1ppm 40wt%分析时间：30-120秒光源：3mW780nm半导体光纤样品体积：0.2-5ml操作软件：兼容Windows98,2000,NT,XP,Vista等国际标准：ISO13321环境温度：10 Cto35 C相对湿度：小于90%