X荧光硅铝分析仪 性能特点 1 、微机化集成为一体，结构紧凑，外形美观。 2、大屏幕液晶显示，全中文菜单提示操作，使用极为方便。 3、分析时间短，1分钟即能测出SiO2%、Al2O3%。 4、仪器检测时不破坏样品，样品可重复使用。 5、不用任何化学试剂、无三废排放，不含放射源、低耗电，符合环保节能要求。　　　 6、数据存储量大，含量结果、仪器自检数据都可查询，避免了打印耗材。 7、仪器执行GB/T19140《水泥X射线荧光分析通则》。 8、可与配料系统联网，实现自动控制。 主要技术指标 1、分析范围:SiO2、Al2O30.01%～100% 2、分析精度：标准偏差SSiO2 0.10%、SAl2O3 0.08% 3、分析宽度:SiO2(Al2O3)max SiO2(Al2O3)min 5%,例如生料中SiO2:10%～15%，通过标定工作曲线选定。 4、分析时间:n*60秒（n为1～5自然数）。 5、使用条件:供电AC200V～240V；环境温度0～40℃；相对湿度 85%（30℃）。 6、整机功耗: 30W 7、整机尺寸：468mm*368mm*136mm 8、整机重量：13.8kg