技术规格 工作原理： 采用X射线荧光（XRF）技术进行多元素分析 探测器： 高性能、高分辨率Si-PinX射线探测器，Peltier效应半导体制冷 硬件系统： 日立SH-4CPUASICS高速数字信号处理器　4096像元微通道结构 充电电池： 电池满充电可连续工作8-12小时 显示器： 带背光的视频图形阵列（VGA）触摸屏LCD,显示分析时间，合金牌号，成分百分比含量和分析误差值（2倍sigma误差） 分析范围： 从22号元素钛（Ti）到83号元素铋（Bi）中，23个标准合金成分元素。选配充氦装置可以分析Mg,Al,Si,P。非标准元素亦可能分析，需根据具体情况协商确定 工作模式： （1）合金牌号鉴别与成分分析模式；（2）标识匹配鉴别模式；（3）超级成分分析模式 数据存储： 6000个以上的测量数据及其X射线谱图 仪器重量： 1.4公斤 仪器尺寸： 248×273×95mm（L×H×W） 激励源： 低功率35kV/1.0W银阳极靶X射线管 工作条件： 环境温度-20℃-50℃ 安全特性： 操作密码保护，防止非授权人员使用；仪器断电或故障时，快门自动关闭；快门打开或X射线管工作时，仪器四周LED指示灯闪烁 标准附件： 带锁的防水手提箱，携带用仪器保护套，备用充电电池及护套，110v/220v通用充电器，PC机连接电缆，NDT软件，仪器手腕安全系索，仪器检查、验证用合金标样，使用手册 分析范围 激励源： Ｘ射线管 分析元素： TiVCrMnFeCoNiCuZnZrNbMoAgPdSnHfTaWRePbBiSeSb 应用范围： 各种高低合金钢、不锈钢、工具钢、铬/钼钢、镍合金、钴合金、镍/钴耐热合金、钛合金、铜合金、青铜、锌合金、钨合金等；可通过对其它合金元素的测定，实现对铝、镁轻合金的牌号鉴定。 XLt的特点 ◆真正实现在现场对被检材料进行完全无损的快速检测 ◆仪器直观显示合金牌号和元素成分百分比含量 ◆用户可以自行编辑合金牌号库和添加合金牌号 ◆仪器无需外接PDA，一体化程度更高，抗电脑病毒，防尘防水能力强，操作便捷 ◆可选蓝牙附件实现与计算机的无线通讯 ◆随机配置NDT软件，可进行数据上传或下载，可编辑、输出PMI分析报告，可实现PC机远程控制 ◆自动存储6000个以上的分析数据和谱图 ◆不含放射性同位素激励源 ◆外型优雅、握在手中很舒适 ◆高强度、高密封性设计，防溅水，抗冲击性好 ◆采用尼通专利技术的高速电子部件，延长了电池工作时间，通常充满电后，可轻松完成2000点（10秒/点）以上的测试 ◆一体化触摸屏，用户界面先进、直观，操作方便 ◆具有热交换功能的充电电池，允许长时间连续工作 ◆一体化条形码扫描器，数据输入快速，简便 ◆更快的分析速度，接近实验室水平的分析精度 ◆较少的校准需求，多种可选的分析模式 ◆具有机内自动诊断和故障报告功能 ◆可通过Internet实现软件升级