电解式膜厚仪CT-3 破坏式镀层测厚仪特点： 1、各种镀层(多层、合金)的精密测量；2、除平板形外，还可以通过提供的图表测量圆形、棒形（细线）等各种形状3、可高精度测量其它方式不易测量的三层以上的镀层；4、可制作非破坏式膜厚仪的标准板；5、可检查非破坏式膜厚仪的测量精度; 6、最新产品，精度提高，简单易懂，操作及保养容易。7、标准板校正值的计算和设定可自动进行；8、三档测量速度, 可以准确测量极薄镀层厚度9、可分离测量铜(合金)上的锡(合金)镀层间的扩散(合金)层; 10、独特的测量台(电测公司专利)是利用条形弹簧方式,使操作方便简单. 技术指标： 测量范围：0.006～300um. 分辨率：0.001um 精确度：±1% 测量面积：A, B, C三种测头， A: 3.4 , B: 2.4, C:1.7∮?. 电解速度：0.125 u/sec , 0.0125 u/sec , 0.00125 u/sec. 灵敏度调节：5段可调 测量单位：um ,nm (由LED显示直读). 可测层数：3层. 可测镀层：金、?、化??、?、硬?、???、?、?、?、?、?、?、?、?、?重?、三重?、黑? 可测合金层：??合金、??合金、??合金、??合金、??合金 误差校正范围：±15%. 外形尺寸：121(H) × 240(W) × 181(D) mm. 仪器重量：3.0 kg. 使用电源：AC100V (115V, 200V, 230V)， 50/60 Hz.