太阳光模拟器检测仪设备性能：

u 整机系统方案采用软/硬件结合设计，在不损失指标和性能的前提下，简化硬件设计，提高可靠性；并使设备的维护和检修更加容易。

u 闪灯脉宽0--45 ms连续可调，步进1ms，适应不同的电池片测量。

u 一次闪光测试区间，可设定多次测量，并且光强可根据每次测量的要求分别设定、以适应不同的应用需求(可选)。

u 采用2M×4路高速同步采集卡，更多还原测试曲线细节，准确反映被测电池片的实际工作情况。

u 自动控制，在整个测试区间实时侦测电池片和主要单元电路的工作状态，并提供软/硬件保护，保证设备的可靠运行。

太阳光模拟器检测仪技术参数

 型号规格：SMT-A   SMT-B   SMT-F　

辐照不均匀度：≤±2%（SMT-A）   ≤±3%（SMT-B）   ≤±2%（SMT-F）　

辐照不稳定度：≤±2%（SMT-A）   ≤±3%（SMT-B）   ≤±2%（SMT-F）　

测试结果一致性：≤±0.5%（SMT-A）   ≤±1%（SMT-B）   ≤±0.5%（SMT-F）　

电性能测试误差：≤±1%（SMT-A）   ≤±2%（SMT-B）   ≤±1%（SMT-F）　

单次闪光时间：10ms　

光谱范围：符合IEC60904-9要求（A级）　

辐照强度：100mW/cm2(调节范围70~120mW/cm2)　

有效测试面积：2000mm×1050mm(2000mm×1200mm定制）

有效测试范围：10W~300W　

测量电压：1V~10V(分辨率1mV)　

测量电流：100mA~20A(分辨率1mA)　

测试参数：Isc 、Voc 、Pmax 、Vm 、Im 、FF、 EFF 、Temp　

数据采集：含8000个数据采集点

     
     太阳光模拟器检测仪应用领域：　

专门用于太阳能单晶硅、多晶硅、非晶硅电池组件的电性能测试。　

联系人：陶女士

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